nano grains

TOP > 検査装置 > 非接触・非破壊検査装置

非接触・非破壊検査装置

透磁率と誘起電力同時測定法を用いた非破壊検査デバイス

非破壊検査方法比較表

一般検出方法との比較
  磁粉探傷 浸透探傷 X線探傷 超音波探傷 渦流探傷 MDK法
信号 磁粉吸着 液体浸透 浸透X線 反射超音波 電磁誘導渦電流 磁束透過
欠陥
位置
表層部 表面 内部 内部 表層部 深部
検出
欠陥
割れ

ピンホール
表面の割れ
ピンホール
割れ
接合不良
異物
割れ

接合不良
異物
割れ

ピンホール
割れ

ピンホール
材質
厚さ
疲労
応力
特質 後洗浄要
分解能悪
後洗浄要
分解能悪
試料制限
管理区域
溶媒要 分解能悪 高速
高分解能

鋳鉄スリーブのクラック非破壊検査

鋳鉄スリーブを回転台で回しながら(30rpm)、上口部をペン型センサーで検査します。試験体の1箇所でMDKセンサーが大きく反応していることが、結果からわかります。カラーチェックからも反応があった部位にクラックがあることが確認されています。

クラック部

金属結晶微粒化状態の検出

LEVEL検出では欠陥の検出を行う

PAGE TOP